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電離放射線の遺伝的影響 : ヒトの遺伝に及ぼす危険性の評価

責任表示:
サンカラナラヤナン著 ; 村上昭雄 [ほか] 編訳
言語:
日本語
出版情報:
東京 : サイエンティスト社, 1987.10
形態:
x, 331p ; 26cm
著者名:
ISBN:
9780444803795 [0444803793]
書誌ID:
BN01662844
フォーマット:
図書
子書誌情報
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